2019-07-11 10:14
对此,在MWC19上海期间,MVG亚太区技术总监Mathieu Mercier在接受C114专访时与我们分享了MVG对于5G相关测试问题的洞察。
5G时代测试面临新挑战
随着5G设备测试和测量技术的复杂性不断增加,开发、优化满足5G NR标准的无线产品的设计、原型和部署,并快速可靠地推动产品面市,对于射频、微波测试测量行业而言是一个划时代的技术挑战。
谈及5G所面临的测试挑战,Mathieu Mercier指出,首先,从技术角度来说,5G频谱效率将会是4G的5-15倍,峰值数据速率也将达到千兆比特每秒,包括毫米波、波束赋形、超宽带技术等在内的许多新技术应运而生,并需要通过符合5G NR标准的解决方案来进行测试与测量。而随着5G NR移动通信标准的发布和推进,5G设备测试和测量技术的复杂性不断增加。
其次,5G设备和基站的测试和测量方法将显著不同于现有的方法。从测试角度来看,鉴于5G设备中的RF架构和所使用的更高的频段,以往射频试验室通过同轴电缆进行的测试将由OTA(空中接口)测试方式取替,因为设备中将不再有任何物理连接器。除了天线测试之外,所有其它射频系统性能参数和无线资源参数也需要采用OTA测试,且测试对象不仅是天线,而是升级到整个设备、整个系统。
例如,之前3G/4G的天线方向图是固定的,而与前几代移动通信标准不同,5G NR毫米波技术使用了动态可转向波束,通过将尽可能多的信号能量直接对准设备来最大程度提升连接质量,这些可转向波束由相控阵天线以及它们的相关电子元件生成,而这些天线和电子元件均需要通过OTA测试在众多配置下得到校准和测量,以确保它们的连接得到优化。
“5G时代的测试环境发生了巨大变化,OTA(空中接口)测试测量方法已经慢慢成为了主流。”Mathieu Mercier进一步指出,整个行业对于OTA的需求越来越高。首先,在OTA环境当中,要建立起来相应的测量工具和被测量的设备之间的通信,之后通过空中测试的方式来进行相应的测量。
推出面向物联网5G应用的OTA测试设备MiniLAB
5G时代,行业对于OTA测试需求日益旺盛,也对测试厂商提出了更高要求。
为此,MVG推出针对物联网设备的天线测试系统——MiniLAB |6 GHz OTA便携式和紧凑型OTA测试系统,配备全波暗室,支持高精度、快速执行OTA测量,包括临界低功率敏感性测量。由于能够得到待测试设备的完整球形辐射表征,用户可以获取无线连接性能的优劣分析,并能诊断性分析如何优化产品。MiniLAB |6 GHz OTA的自动化和直观的用户界面使得在天线测试中缺乏经验的物联网设备企业也能够高精度地执行高效的OTA测试。
与同类产品相比,MiniLAB |6 GHz OTA经过优化,覆盖处理蜂窝和非蜂窝协议以及低功率IoT协议和5G NR 6 GHz以下所需的整个频率范围,如果测试频率在6GHz以上只需通过软件升级即可,特别适合智能手机、物联网、M2M、可穿戴设备和M2M设备的测试。
同时,只需进行软件升级,MiniLAB |6 GHz OTA就可以支持更多物联网协议,还也允许客户自定义协议。相比传统的IoT设备无线测试方案, MiniLAB | 6 GHz OTA的方方面面都得到优化,无论是材质、技术或是软件方面。MiniLAB | 6 GHz OTA自带的 WaveStudio软件平台逐步引导用户的使用,使其能够高效地执行完全自动化的OTA测试,WaveStudio在发布新版本之前会对数据进行全面验证,以确保测试的稳定性。
四大优势在万物互联时代直面竞争
作为5G天线测试测量技术的先行者,MVG的客户广泛分布于航空航天、无线基站、手机、汽车四大领域。
谈及MVG在5G天线测试测量、OTA测试市场的优势时,Mathieu Mercier总结道,MVG主要有以下四大优势:
第一,完整的交钥匙解决方案,可以测试从小设备到大系统的所有产品,涵盖硬件、软件及项目实施等。
第二,先进的技术,通过不断改进测量方法和技术,满足日益复杂的研发测试要求;拥有22个国际专利,在研发方面的投入非常大,研发投入占到年营收的10%;同时MVG一直都是3GPP主要的参与者和贡献者,积极参与有源天线(AAS) OTA测试工作组、空中MIMO(MIMO-OTA)测试工作组和新无线电(NR)5G研究工作组的工作。
第三,MVG的客户覆盖民用通信和航空航天等多个领域,拥有非常丰富的经验和成功案例,可以将这些经验和技术应用在5G测试上。
第四,专业团队。在售后方面,尤其在中国市场的售后有非常专业的支持团队,能够保证在客户安装了设备之后,进行后续和功能上的完善。
谈及如火如荼的中国市场,Mathieu Mercier表示:MVG一直非常重视中国市场,我们将与中国客户携手,以我们多年积累和深化的行业经验,帮助企业更早布局未来,在5G时代中占尽先机,迎接万物互联时代。